Архив номеров научного журнала
"Аналитика и контроль"
"Аналитика и контроль"
Архив номеров научного журнала
"Аналитика и контроль"
СРАВНЕНИЕ МАТРИЧНЫХ ЭФФЕКТОВ НА АТОМНО-ЭМИССИОННЫХ СПЕКТРОМЕТРАХ С МИКРОВОЛНОВОЙ ПЛАЗМОЙ
Е.В. Полякова, О.В. Пелипасов
Институт неорганической химии им. А.В. Николаева СО РАН; Институт Автоматики и электрометрии СО РАН
Аннотация
Создание и внедрение в практику аналитических лаборатории новых источников возбуждения спектров излучения атомов пробы и спектрометров на их основе ставит множество вопросов перед исследователями о полученных аналитических характеристиках нового оборудования и методик анализа. К наиболее важным характеристикам любого метода относят пределы обнаружения, правильность и воспроизводимость получаемых результатов. Существенное влияние на эти параметры могут оказывать матричные элементы. В работе проведено сравнение изменения интенсивностей аналитических линий элементов-примесей в присутствии матричных элементов с потенциалами ионизации 5.13 – 10.48 эВ (Na, Cu, Pb, Cd, Zn, In, Ga, Bi, P) в диапазоне концентраций 0 – 1 % мас. на коммерчески доступных атомно-эмиссионных спектрометрах с микроволновой плазмой «Гранд-СВЧ» («ВМК-Оптоэлектроника») и Agilent MP-AES 4100 (Agilent Technologies). Показано, что величина матричного эффекта в этих источниках возбуждения зависит от потенциала ионизации матричного элемента и суммарной энергии линии аналита. Установлено влияние матричных элементов (Na, Cu, Pb, Cd, Zn, In, Ga, Bi, P) с концентрацией до 1 % мас. на интенсивность спектральных линий атомов и ионов пробы. Элементы со средней и высокой энергией ионизации практически не влияют на интенсивность атомарных спектральных линий элементов-примесей и приводят к снижению интенсивности ионных линий. Влияние легкоионизируемых элементов более выражено: наблюдаются как депрессирующее, так и усиливающее действие, вызванные, вероятно, как изменением концентрации электронов в плазме, приводящим к линейному изменению равновесия между атомами и ионами, так и к снижению температуры плазмы. Увеличение подводимой к плазме мощности на спектрометре «Гранд-СВЧ» приводит к снижению влияния легкоионизируемых элементов на интенсивность спектральных линий элементов. Показано, что плазма в спектрометре «Гранд-СВЧ» обладает лучшей устойчивостью к матричным влияниям по сравнению Agilent MP-AES 4100, что связано с большим объемом плазмы и большей подводимой мощностью.
Ключевые слова
Атомно-эмиссионная спектрометрия, микроволновая плазма, магнетрон, матричные эффекты, аналитическая химия
Информация об авторах
DOI: http://dx.doi.org/10.15826/analitika.2021.25.4.004
Скачать полный текст статьи:
~503 кБ, *.pdf
(Размещен
06.12.2021)
Создано / Изменено: 2 апреля 2019 / 19 февраля 2020
© ФГАОУ ВО «УрФУ имени первого Президента России Б.Н. Ельцина»
Увидели ошибку?
выделите фрагмент и нажмите:
Ctrl + Enter
Дизайн портала: Artsofte