Архив номеров научного журнала
"Аналитика и контроль"
"Аналитика и контроль"
Архив номеров научного журнала
"Аналитика и контроль"
Определение матричного состава халькогенидных стекол системы Ge-Se-Te методом АЭС-ИСП
Д.А. Фадеева, И.И. Евдокимов, В.Г. Пименов
Аннотация
Один из важнейших этапов аналитического контроля высокочистых халькогенидных стекол, используемых для изготовления оптоволоконных устройств, является установление содержания матричных элементов с неопределенностью на уровне 0.1–0.2 % мол. Необходимость данного этапа аналитического контроля возникает из-за сложности получения высокочистых халькогенидных стекол с необходимой точностью задания матричного состава, что связано, отчасти, с возможными потерями матричных элементов на многочисленных стадиях синтеза и очистки. Методик определения матричных элементов стекол системы Ge-Se-Te с необходимыми метрологическими характеристиками найти не удалось. В статье описана разработка методики определения матричных элементов высокочистых стекол вышеуказанной системы в диапазоне содержания германия от 10 до 35 % мол., селена и теллура – от 20 до 50 % мол. с расширенной неопределенностью результатов анализа на уровне 0.01–0.2 % мол. (P = 0.95) с использованием атомно-эмиссионной спектрометрии с индуктивно связанной плазмой. Предложен способ приготовления первичных градуировочных растворов, необходимых для достижения заявленного уровня неопределенности, с использованием германия, селена и теллура в форме чистых простых веществ. Корректность оценки точности результатов анализа подтверждена сопоставлением расчетного матричного состава модельных образцов стекол, изготовленных прямым синтезом из высокочистых простых веществ в запаянной ампуле из кварцевого стекла, с результатами анализа. Главное достоинство предложенной методики анализа – отсутствие потребности в образцах сравнения, идентичных анализируемому материалу, что особенно важно при установлении матричного состава новых материалов (т.е. когда образцы сравнения, и даже способы их изготовления отсутствуют в принципе). Минимальная для определения матричных элементов масса пробы составляет около 1 мг, что позволяет проводить анализ не только массивных образцов стекол, но и изготавливаемых из них волокон, а также дорогостоящих материалов.
Ключевые слова
халькогенидные стекла Ge-Se-Te, определение матричных элементов, высокая точность, атомно-эмиссионная спектрометрия с индуктивно связанной плазмой
Информация об авторах
DOI: http://dx.doi.org/10.15826/analitika.2020.24.4.002
Скачать полный текст статьи:
~588 кБ, *.pdf
(Размещен
09.06.2021)
Создано / Изменено: 2 апреля 2019 / 19 февраля 2020
© ФГАОУ ВО «УрФУ имени первого Президента России Б.Н. Ельцина»
Увидели ошибку?
выделите фрагмент и нажмите:
Ctrl + Enter
Дизайн портала: Artsofte