Архив номеров научного журнала
"Аналитика и контроль"
"Аналитика и контроль"
Архив номеров научного журнала
"Аналитика и контроль"
ОПРЕДЕЛЕНИЕ ТОЛЩИНЫ ГАЛЬВАНИЧЕСКИХ ПОКРЫТИЙ Ni-P, Sn-Bi и Sn-Pb МЕТОДОМ АТОМНО-ЭМИССИОННОЙ СПЕКТРОМЕТРИИ С ТЛЕЮЩИМ РАЗРЯДОМ ПОСТОЯННОГО ТОКА
А.Л. Чичерская, А.А. Пупышев
Аннотация
Ключевые слова
Информация об авторах
DOI: http://dx.doi.org/10.15826/analitika.2015.19.1.007
Скачать полный текст статьи:
~900 кБ, *.pdf
(Размещен
16.04.2019)
Создано / Изменено: 2 апреля 2019 / 19 февраля 2020
© ФГАОУ ВО «УрФУ имени первого Президента России Б.Н. Ельцина»
Увидели ошибку?
выделите фрагмент и нажмите:
Ctrl + Enter
Дизайн портала: Artsofte